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Ron Sinton于1992年创办Sinton Instruments,具备30年在硅太阳电池片宝贵检验,包括在1987证实28%高效率的聚光型硅太阳电池,1989年达到一个太阳23%电池转换效率并以Sunpower 公司研发部经理身份移转这些技术成量产制程。自从1992年,Sinton Instruments公司已经成为一个提供创先性量测及检验技术,并用于单晶,多晶硅太阳电池生产优化的领导供应商

硅太阳电池研发及生产的量测与检验方案

-针对SEMI最新制订载子合复寿命量测标准的内含意义及讨论。

-利用载子合复寿命及电阻率量测针对硅锭,硅块进行合格检验及优化分析。

-如何对原生硅片进行生产前合格检验。

-如何优化掺杂扩散制程。

-如何评估并优化选择性射极技术。

-如何利用Suns-Voc进行浆料与烧结技术优化

-硅太阳电池片与组件的电流-电压曲线量测。

-如何针对新的生产设备进行合格检验。

Sinton Instrument

FPS-300闪光电源

In stock

充电时间3秒(QSS)或1秒(瞬态)
闪光模式LO和HI(200W和400W,用于BCT-400 / BLS-I)
定制设计WCT-120, SunsVoc, BCT-400, BLS-I
软件版本WCT-120:4.6.0或更新版本, SunsVoc:4.6.0或更新, BCT-400 / BLS-I:4.5.1或更新

少子寿命测试仪 WCT-120测试硅片

In stock

测量原理QSSPC(准稳态光电导)
少子寿命测量范围100 ns-10 ms
测试模式QSSPC,瞬态,寿命归一化分析
电阻率测量范围3–600 (undoped) Ohms/sq.
注入范围1013-1016cm-3
感测器范围直径40-mm
标准直径40–210 mm(或更小尺寸)
硅片厚度范围10–2000μm
工作温度20°C–25°C
功率测试仪: 40 W ,电脑控制器:200W ,光源:60W;
通用电源电压100–240 VAC 50/60 Hz
重量1kg

少子寿命测量仪 BCT-400测试硅锭

In stock

可以测量的样品的表面类型表面为平的硅块样品(BCT-400), 表面不平整的硅块样品(BLS-I), 不平整弧度的直径可达150mm
重复频率>25次/s
脉冲宽度>60μs
光脉冲关断时间<1μs
工作波长
脉冲电流5A~20A
可测量的少子寿命范围0.1μs-10ms
可测量的电阻率范围0.5-300ohm.cm
可施加的用于修正陷阱的偏执光范围0-50suns
光源光谱白光和红外光
感应器的面积45cm×45cm
可测量深度3mm