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少子寿命，半导体材料关键参数，指非平衡少数载流子的平均存在时间，反映材料复合特性，用于光伏、硅片及芯片材料质量评估。
少子寿命测量仪 BCT-400测试硅锭
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| 可以测量的样品的表面类型 | 表面为平的硅块样品（BCT-400）, 表面不平整的硅块样品（BLS-I）, 不平整弧度的直径可达150mm |
|---|---|
| 重复频率 | ＞25次/s |
| 脉冲宽度 | ＞60μs |
| 光脉冲关断时间 | ＜1μs |
| 工作波长 | 1.06-1.09μm |
| 脉冲电流 | 5A～20A |
| 可测量的少子寿命范围 | 0.1μs-10ms |
| 可测量的电阻率范围 | 0.5-300ohm.cm |
| 可施加的用于修正陷阱的偏执光范围 | 0-50suns |
| 光源光谱 | 白光和红外光 |
| 感应器的面积 | 45cm×45cm |
| 可测量深度 | 3mm |
